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工业CT扫描工作站 XT H 225系列 X射线测量装置尼康Nikon检测仪器
产品名称

工业CT扫描工作站 XT H 225系列 X射线测量装置尼康Nikon检测仪器

在零件内部组装的信息获取与测定,质量管理,故障分析,材料研究等应用中不可缺少。装备了225kV微焦点X射线源的XTH225系列,带给我们高清晰度的X光图像以及CT图像。
编号
Nikon03
数量
-
+
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产品描述
规格属性

Nikonxth225D1.jpg
 

工业CT扫描工作站
XT H 225系列
 
在零件内部组装的信息获取与测定,质量管理,故障分析,材料研究等应用中不可缺少。装备了225kV微焦点X射线源的XTH225系列,带给我们高清晰度的X光图像以及CT图像。
 
主要特点
Nikonxth225D3.jpg
 
 高速旋转靶(选配件)可以使X射线束增幅达到五倍,实现在同一扫描时间内CT数据精度更高,CT数据获取也更加快速。
• 225kV的强力射线管(选配旋转靶)
• 实时的X射线可视化,迅速的CT 数据重构
• 完全可编程化的5轴操作样品台
• 可自定义宏让检测工作流程自动化
• 针对多用途设计的3种不同大小的铅房防护外壳(标准,ST,LC)
 
引进功能
 
• 将灵活性整合到一个系统里:X射线快速可视化检测,CT重构精密解析
• 快速获取高品质图像
• 人机交互式操作杆导航界面使用快速直观
• 高清晰度数字图像与图像处理
• 不需要特别外加防护的完备安全系统
• 通用于业界标准的后处理应用格式
 
用途
Nikonxth225D2.jpg
 
 精密的塑料零件,小型铸件,复杂的机械装置、CAD实物比对等等的评价与测定
• 详细的故障原因分析
• 材料学研究与生物学的构造分析
• 模型的数据转换与保存
• 组装装配的问题分析
 
XT H 225 X射线和CT检测系统,可供工业应用工业零部件内外全检
外部零件和总成特征的详细测量对于质量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系统可提供X射线源,大检测体积和较高的X射线和CT成像分辨率。

XT H 系统可采用225kV电源,可选用旋转目标,适合于各种应用,包括小铸件检测、塑料件及材料研究。
 
系统技术指标 
5µm 焦斑反射目标X射线源,25~225 kV,0~2000 µA(非连续)60或225W。
10kg 容量五轴可编程操纵器。
扫描范围:250 x 330mm。
几何放大倍数:160x.
系统放大倍数:400x。
特征识别分辨率:最低1µm。
外机柜尺寸:2030mm L,925mm D,2000mm H。
全套系统控制和图像处理软件。
未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加
暂未实现,敬请期待
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